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介电常数测试仪是一种多功能、多用途、多量程数字化阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理，以电压比值刻度Q值的。
本测试装置是由测微平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化和厚度的刻度读数变化通过公式计算得到。同样，由平板电容器的刻度读数变化，通过公式计算得到介电常数。
介电常数测试仪特性：
它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
c类数显Q表工作频率范围是10kHz～60MHz,是一种多功能、多用途、多量程数字化阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理，以电压比值刻度Q值的。它能测量高频电感器的Q值，电感量和分布电容量；电容器的电容量和损耗角。配以夹具BH916介质损耗装置还能对固态绝缘材料的高频介质损耗（tanδ）和介电常数（ε），高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等进行测试。本Q表依照**计量检定规程：“JJF1073-2000高频Q表校准规范”执行。
介电常数测试仪特点：
◎ 本公司创新的自动Q值读取技术，使测Q分辨率至0.1Q。
◎ DPLL合成发生1kHz～70MHz,测试信号。
◎ 低至20nH残余电感，**高频时直读Q值的误差较小。
◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ 数字化Q值预置，能提高批量测试的可靠性和速度。
参数：
1 测试信号频率范围：1kHz～70MHz，数字合成，可数字设置或连续调节，五位有效数显。
2 Q值测量范围：1～1000四位数显，分辨率0.1Q。分100、316、999三档，量程可自动切换。
3 Q值固有误差：±5%±3% 满刻度值。
4 有效电感测量范围：0.1?H～1000mH。
5 电感测量误差：≤5%±0.02?H
6 调谐电容特性：
6.1可调电容范围：40pF～500 pF。
6.2 精确度：±1% 或0.5pF。
6.3微调电容器：-3pF～0～+3pF，分辨率：0.2pF
6.4残余电感值：约30nH。
7 Q预置功能：Q预置范围：1～1000均可。被测件达到预置值后有“GO”显示和蜂鸣声提示。不合格件则显示“NO GO”。
8 外形尺寸及重量：415×180×170（mm）,6.5kg。
BH916 介质损耗测试装置（数显）
BH916D介质损耗测试装置与C类Q表及电感器配用，能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
工作特性
1.1 平板电容器：
1.1.1 极片尺寸：
c类-38：Φ38mm.
c类-50：Φ50mm.
1.1.2 极片间距可调范围和分辨率：
≥8mm， ±0.002mm
1.2 夹具插头间距：
25mm±1mm
1.3夹具损耗角正切值
≤2.5×10-4
附表二,LKI-1电感组典型测试数据
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz 50MHz 233211 0.9 0.125μH
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